Dielektrizitätskonstante von Leiterplatten (Kerne & Prepregs)

Impedanzkontrolle am Testcoupon mit dem Sequid Zeitbereichsreflektometer STDR-65Die im Rahmen der Leiterplattenfertigung ver­wen­de­ten Prepreg- und Kernmaterialien unterliegen be­kannter­maßen nicht unerheblichen pro­duk­ti­ons­be­ding­ten und auch ortsabhängigen Schwankungen. In der Regel ist die Anfertigung von Schliffbildern in Kombination mit der Messung der Leitungsimpedanz notwendig, wodurch ein hoher zeitlicher Aufwand ent­steht.

Mit der im Software-Modul εbase verwendeten innovativen Dual-Line Technologie kön­nen Sie in kurzer Zeit die Dielektrizitätskonstante Ihres Substrats messen. Möglich wird diese Art der Messung durch die extrem genaue zeitliche Auflösung des DTDR-65 bzw. STDR-65. Der Benutzer spart auf diese Weise wertvolle Zeit und damit Kosten ein, da eine effiziente und genaue Charakterisierung der verwendeten Basismaterialien erfolgt.

Häufig ist die Bestimmung der Dielektrizitätskonstante als skalarer Wert noch nicht ausreichend, da die Frequenzabhängigkeit hierbei vernachlässigt wird - gerade bei Anwendungen im GHz-Bereich kann dies aber von entscheidender Bedeutung sein.

Das innovative Software-Modul εplus ermöglicht erstmals eine schnelle und zu­ver­lässi­ge Aussage über die frequenzabhängige Dielektrizitätskonstante Ihres Prepregs oder Kernmaterials. Die einzigartige Kombination der hochpräzisen Sequid Zeit­bereichs­re­flek­tome­trie (DTDR-65 /STDR-65) und der neuartigen Dual-Line Technologie er­mög­licht die Bestimmung der Materialeigenschaften vom MHz-Bereich bis hinauf zu 5GHz.


Benötigtes Zubehör zur DK-Bestimmung