Dielektrizitätskonstante von Leiterplatten (Kerne & Prepregs)

DK-Messung am Testcoupon Die im Rahmen der Leiterplattenfertigung ver­wen­de­ten Prepreg- und Kernmaterialien unterliegen be­kannter­maßen nicht unerheblichen pro­duk­ti­ons­be­ding­ten und auch ortsabhängigen Schwankungen. In der Regel ist die Anfertigung von Schliffbildern in Kombination mit der Messung der Leitungsimpedanz notwendig, wodurch ein hoher zeitlicher Aufwand ent­steht.


Skalare DK-Bestimmung

Mit der im Software-Modul εbase verwendeten innovativen Dual-Line Technologie kön­nen Sie in kurzer Zeit die Dielektrizitätskonstante Ihres Substrats messen. Möglich wird diese Art der Messung durch die extrem genaue zeitliche Auflösung des DTDR-65 bzw. STDR-65. Nutzer sparen auf diese Weise wertvolle Zeit und damit Kosten ein, da eine effiziente und genaue Charakterisierung der verwendeten Basismaterialien erfolgt.


Frequenzabhängige DK-Bestimmung

Häufig ist die Bestimmung der Dielektrizitätskonstante als skalarer Wert noch nicht ausreichend, da die Frequenzabhängigkeit hierbei vernachlässigt wird - gerade bei Anwendungen im GHz-Bereich kann dies aber von entscheidender Bedeutung sein.

Das innovative Software-Modul εplus ermöglicht erstmals eine schnelle und zu­ver­lässi­ge Aussage über die frequenzabhängige Dielektrizitätskonstante Ihres Prepregs oder Kernmaterials. Die einzigartige Kombination der hochpräzisen Sequid Zeit­bereichs­re­flek­tome­trie (DTDR-65 /STDR-65) und der neuartigen Dual-Line Technologie er­mög­licht die Bestimmung der Materialeigenschaften vom MHz-Bereich bis hinauf zu 5GHz.


Benötigtes Zubehör zur DK-Bestimmung